冷热冲击试验箱 　　　一、用途, 　　用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具., 二、满足标准 　　国家标准GJB150.3-86,国家标准GJB150.4-86,国家标准GJB150.5-86,, 　　GB2423.1-89,电工电子产品基本试验规程试验A:低温试验方法, 　　GB2423.2-89,电工电子产品基本试验规程试验B:高温试验方法, 　　, 　　控制方式与特色︰, 　　利用低温及高温蓄冷热储存槽,依动作需要打开DAPER,达到快速冲击效果,平衡调温控制系统(BTC),以P.I.D.方式控制SSR,使系统之加热量等于热损耗量,故能长期稳定使用。, 　　技术参数：, 　　1、,温度范围：-40℃～+150℃、-55℃～+150℃、、-65℃～+150℃, 　　2、,温度上限：200℃, 　　3、,温度下限：-60℃, 　　4、,温度偏差：±2℃, 　　5、,温度波动度：±0.5℃, 　　6、,温度恢复时间：5min, 　　7、,温度恢复条件：高温+150℃保温≥30min,低温-60℃保温≥30min,试品重量在规定范围内, 　　8、,试品转移时间：≤15秒, 　　9、,试品转移方式：采用气动, 　　10、试品重量：≤3kg, 　　11、高温室升温时间：30min,(+25℃～+100℃), 　　12、低温室降温时间：60min,(+25℃～-55℃), 　　13、噪音：（dB）≤65, 　　14、电源：AC380V/50Hz+保护接地, 　　15、总功率：20KW